ホーム > 事業のご紹介 > 検査装置事業 > 卓上型欠陥検査装置 GX-700LT


卓上型欠陥検査装置 GX-700LT

インライン機の機能をそのままコンパクトに凝縮した、
品質保証・研究開発・技術サービス部門向けの卓上型欠点検査装置。


【主な仕様】

ラインセンサカメラ 駆動周波数 40MHz 80MHz 160MHz 検査対象により最適なカメラを
選択します。
画素数 7450画素 7400画素 8160画素
画素サイズ 4.7µm × 4.7µm 5µm × 5µm
信号処理部 10bitA/D変換、欠陥特徴量抽出回路、全画素独立地合補正機能
制御部 Windows XP、Core2 Duoプロセッサー、TFT液晶ディスプレー
検査架台 ワークサイズ:A4(標準)、約780W×907H×698D
操作性 透過・反射光源選択可、入射角・投射角可変等
卓上型欠陥検査装置 GX-700LT の用途
  • 枚葉検査/オフライン検査/製品抜取り検査/品証検定用
  • インライン検査条件検討の補助装置
卓上型欠陥検査装置 GX-700LT の特徴
  • カメラ移動(高さ、角度振り)、照明移動(透過・反射)等が装備され、光学条件の設定がスムースに行えます。
  • お客様の仕様用途にあった構成をご提案します。
  • 標準A4サンプルの他、被検体サイズに併せた仕様もご提案します。
  • 弊社独自のアルゴリズムにより、地合変化や光量変動等の影響を受ける事が少なく、微小・微妙な欠陥もパーフェクトに検出します。

データ解析例

【マップファイル】

マップファイル(計測結果)には、欠陥の位置・大きさ・波高値レベル・面積比・大きさによる分類など欠陥解析に役立つ多くの情報が保存されます。


また、欠陥画像の波形表示も可能で、画像はデータファイルまたは、マップ図(欠陥位置図)から呼び出すことができます。

【マップ画面】


代表的な操作例

【マップ画面】

マップ表示モード

【検査中画面】

マップ&生画像表示モード

【欠陥画像】


異物


スジ


ピンホール


抜け

検査中画面には、欠陥画像、欠陥データファイルを同時に表示することができます。


画像処理による欠陥抽出例
  • 肉眼では分かりにくい低コントラストな欠陥も独自の画像処理技術により明確に抽出することが可能です。
  • まずはサンプルテストをご依頼ください。
 

【元画像】

 

【処理画像】

  【抽出結果】